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Hitachi

株式会社 日立パワーソリューションズ受託分析サービス一覧

サービスの概要

析出物や異物の分析調査を行う場合、その試料が僅かな量しか確保できないことが多くあります。そのような痕跡程度の試料の場合でも、微細な領域を測定するための分析装置を使用することで、目的のデータを得ることができます。また、形状観察と同時に元素情報を取得することにより、観察面の線分析や面分析が可能です。

特長

バルク材の定性分析・半定量分析

金属材料やプラスチック材料など均質な平面がある場合は、蛍光X線分析による定性分析・半定量分析が可能です。比較的大きな面を分析対象とすることから、精度のよいデータが得られます。

微細領域の定性分析・線分析・面分析

微細領域を観察する際に、観察領域がどのような元素で構成されているかを確認するために、エネルギー分散型X線元素分析装置を用いて定性分析を実施することができます。また、それぞれの元素の分布状態を確認するために、線分析・面分析を行うことができます。

適用分野

  • 金属類
  • セラミックス
  • プラスチック
  • 破面観察
  • 異物分析

事例

  • 微小析出物・異物の分析調査

主な装置・仕様

電界放出形走査電子顕微鏡(FE-SEM)

日立製作所 S-4300
  • 電子銃:コールドFE電子銃
  • 加速電圧:0.5〜30kV
  • 検出器:二次電子検出器、エネルギー分散型X線分析用検出器

エネルギー分散型X線元素分析装置(EDX)

EDAX Genesis APEX2 System
  • 元素分析:Be - U
  • エネルギー分解能:129eV